1.問(wèn)題的提出   

在使用斯派克LAB直讀光譜儀控制高鎳奧氏體鑄造生產(chǎn)過(guò)程中，我們遇到過(guò)這樣一個(gè)問(wèn)題：現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)員反映，用同一批原材料，同一個(gè)配料單，光譜儀測(cè)出的Mn元素含量突高突低，有時(shí)今天不加Mn，而光譜儀測(cè)出的Mn含量很高，明天Mn一直在增加，而光譜儀測(cè)出的Mn含量卻很低。

2.分析原因

我們感覺(jué)此問(wèn)題有些不可思議，從原理上講是不可能的事情。我們對(duì)光譜儀，標(biāo)準(zhǔn)化，類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)行了多次檢查，沒(méi)有發(fā)現(xiàn)異常。每次標(biāo)準(zhǔn)化都是用斯派克光譜儀自帶的四塊標(biāo)樣，類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化我們采用的也是標(biāo)樣，從標(biāo)準(zhǔn)化，類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)判斷，儀器沒(méi)有問(wèn)題。問(wèn)題到底出在哪里？我們又對(duì)原材料作了多次抽檢，也沒(méi)有發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，排除了原材料問(wèn)題。我們有從試樣均勻性找原因，也沒(méi)有發(fā)現(xiàn)異常問(wèn)題。到底是哪里的問(wèn)題？有一次，我們研制了一種新產(chǎn)品，需要對(duì)Mn通道進(jìn)行擴(kuò)展，我們終于發(fā)現(xiàn)了問(wèn)題的所在。原來(lái)，Mm 元素有高低兩個(gè)通道，低通道測(cè)量范圍是0.002%-1.9%，高通道測(cè)量范圍是1.8%-10.10%，而我們做類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化時(shí)，使用的標(biāo)準(zhǔn)化樣品Mn元素含量是2.01%，而我們產(chǎn)品的Mn元素含量一般控制在1.10%-1.20%之間，這樣，我們做類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化時(shí)，Mn元素是在高通道測(cè)量，而分析產(chǎn)品時(shí)，Mn元素是在低通道測(cè)量，這樣控樣沒(méi)有發(fā)揮控樣作用，所以平常分析時(shí)，測(cè)的Mn元素含量突高突低。問(wèn)題發(fā)現(xiàn)后，我們想把Mn的低通道范圍變小，Mn的高通道范圍變寬的辦法，使控樣和產(chǎn)品的Mn元素都用高通道測(cè)量，效果不理想。后來(lái)，改為用另一塊Mn元素含量為0.86%的標(biāo)樣，用這塊標(biāo)樣單獨(dú)控制Mn元素含量，其他元素含量用另一塊標(biāo)樣控制，問(wèn)題得到解決，并且取得了理想的效果，從根本上解決上訴問(wèn)題。

3.結(jié)論

在生產(chǎn)控制過(guò)程中，我們都會(huì)遇到控樣含量不可能與試樣*相符，分析結(jié)果不甚理想，有時(shí)候，甚至出現(xiàn)一些異常情況，這時(shí)，分析 往往懷疑光譜儀出現(xiàn)異常或故障，控樣問(wèn)題往往被忽略，使問(wèn)題得不到及時(shí)解決，希望同行們遇到類(lèi)似問(wèn)題時(shí)，多觀(guān)察一下控樣是否發(fā)揮了應(yīng)有的作用，往往被忽略的問(wèn)題，反而是解決問(wèn)題的根本。